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镀层测厚

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全自动微区膜厚测试仪

型号:EDX 2000A
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产品说明、技术参数及配置

EDX 2000A全自动微区膜厚测试仪是js06金沙官网登入-(呼和浩特)有限公司股份js06金沙官网登入集多年X荧光膜厚测量技术,专门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备,不仅在常规的传统电镀上表现更加优异,更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方,通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动 , 双激光定位和保护系统 , 实现对平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析。

应用领域

电镀行业
电子通讯
航天新能源
五金卫浴
电器设备
汽车制造
磁性材料
贵金属电镀
高校及科研院所等

设计亮点

上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。
全新的光路,更短的光程,相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。
可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,不仅可适应微小产品,同时也兼顾了台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。 
可编程多点测试,能自动完成对多个样品多个点的测试,大大提高测样效率。
自带数据校对系统,让您永远不再为数据突然变化而担心。

超高硬件配置

采用进口高分辨率的FAST SDD探测器,高达140ev分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,优势巨大。
进口的高功率大高压单元搭配进口大功率X光管,能很好的保障信号输出与激发的稳定性,同时,故障率也极大的降低。
高精度自动化的X轴,Y轴以及Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。

软件界面

人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。 
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

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